一种LED芯片多工位快速拉曼检测系统

本发明涉及LED芯片领域，具体是一种LED芯片多工位快速拉曼检测系统，上料单元、转料单元、检测单元和下料单元；所述上料单元能够将待检测的LED芯片上料至转料单元上，转料单元能够将LED芯片转送至与检测单元相对的位置，检测完成的LED芯片能够被转料单元转送至与下料单元相对的位置，且下料单元将检测完成的LED芯片下料；本发明中，通过上料单元、检测单元和下料单元配合于转料单元，能够依次实现LED芯片的上料、检测和下料，相邻两个环节中间过渡平稳执行，有助于提高LED芯片检测过程效率，整体执行逻辑可由后台控制系统操作，执行过程有条有序，面对大批量LED芯片检测，也能平稳运行。