一种内存模组自动断电压力测试方法及系统

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一种内存模组自动断电压力测试方法及系统
申请号:CN202410719886
申请日期:2024-06-05
公开号:CN118298897B
公开日期:2024-08-20
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种内存模组自动断电压力测试方法及系统,涉及信息技术领域。该方法包括:采用多层抽象工厂模式进行整体测试软件架构设计,划分数据层、业务逻辑层和表示层;集成Memtester作为压力测试的核心引擎,并开发配置文件解析功能,提供测试接口,并对内存模组进行压力测试;集成内存温度传感器,实时采集所述内存模组的温度参数,并对温度进行分析和预警;设计自动断电保护功能,当温度异常时,通过继电器实现内存供电的切断操作。
技术关键词
内存模组 断电保护功能 测试接口 最小化误差 压力测试方法 参数拟合方法 有限元仿真软件 染色体 瞬态温度场 遗传算法 定义 继电器 温升 模块 动态加载测试 界面热阻 数学模型 层级
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