一种利用光学拓扑态的位移测量方法及相关装置

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一种利用光学拓扑态的位移测量方法及相关装置
申请号:CN202410720342
申请日期:2024-06-05
公开号:CN118392048B
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本申请涉及位移测量技术领域,公开了一种利用光学拓扑态的位移测量方法及相关装置。所述方法包括:通过预置的激光发射装置照射目标物体,通过光学传感器采集光信号,并将光信号转换为数字信号;对数字信号进行背景噪声去除,得到清洁数字信号;对清洁数字信号进行拓扑态特征点识别,得到拓扑态特征点集合;基于拓扑态特征点集合,对目标物体进行位移向量计算,得到目标位移向量,本申请利用光学拓扑态的位移测量的准确率。
技术关键词
特征点集合 位移测量方法 重构图像数据 激光发射装置 光学传感器 背景噪声 光信号 特征点识别 特征点描述符 物体 滤波器 位置识别 因子 图像分割
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