一种基于深度学习的高灵敏表面等离子体检测系统及方法

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一种基于深度学习的高灵敏表面等离子体检测系统及方法
申请号:CN202410720648
申请日期:2024-06-05
公开号:CN118570802A
公开日期:2024-08-30
类型:发明专利
摘要
本发明涉及光学检测技术领域,具体提供了一种基于深度学习的高灵敏表面等离子体检测系统及方法,旨在解决现有技术中表面等离子体共振显微镜SPRM成像系统中的散粒噪声影响检测灵敏度的问题。一种基于深度学习的高灵敏表面等离子体检测系统包括空间信息提取模型,用于接收待检测样品的初始图像序列,提取初始图像序列的空间特征信息,获得空间特征序列并输出;时间信息提取模型,用于接收空间特征序列,提取所述空间特征序列中的时间特征信息,获得时空特征序列,并输出目标图像序列。本发明能够去除表面等离子成像系统采集的图像上的散粒噪声,提高表面等离子体成像系统的检测灵敏度。
技术关键词
信息提取模型 空间特征信息 序列 特征信息提取 低信噪比图像 解码器 编码器 卷积模块 高信噪比图像 时空特征信息 光学检测技术 代表 显微镜 输出特征 成像 上采样 尺寸
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