高分辨完整神经元树突棘位置及形态的检测方法及系统

本发明公开了高分辨完整神经元树突棘位置及形态的检测方法及系统。方法包括获取神经元携带荧光信号的离体脑组织；将离体的脑组织进行固定后切片，并对脑切片进行光清除处理；利用荧光显微镜对经光清除处理后的脑切片进行翻转成像，获取脑切片图像块；根据脑切片图像块重叠区域的荧光信号，对脑切片图像块进行三维图像拼接，得到完整的目标脑切片图像块；利用目标脑切片图像块对神经元树突棘进行重构，获得神经元树突棘结构的位置和形态信息。本发明方法能够提供神经元树突棘结构的位置和形态信息，高分辨完整神经元树突棘位置及形态的检测方法能够在数小时内实现单个完整神经元树突棘的解析，操作简单且方法简单易行。