测试供电装置、芯片测试系统

本公开涉及一种测试供电装置、芯片测试系统，所述装置包括偏置电压输出模块及测试电压输出模块，在正常测试模式下，偏置电压输出模块输出第一偏置电压，测试电压输出模块根据第一偏置电压产生第一测试电压对待测芯片进行测试；在高压应力测试模式下，偏置电压输出模块输出第二偏置电压，测试电压输出模块根据所述第二偏置电压产生至少一个第二测试电压对待测芯片进行测试，所述第二偏置电压高于所述第一偏置电压，所述第二测试电压高于所述第一偏置电压；在所述关闭模式下，偏置电压输出模块及测试电压输出模块均不输出电压。本公开实施例能够高效地实现待测芯片的多种测试，在正常测试模式下完成功能测试，在高压应力测试下完成芯片劣化测试。