确定芯片测试程序运行性能的方法、装置、设备和介质

本公开实施例公开了一种确定芯片测试程序运行性能的方法、装置、设备和介质，其中，方法包括：响应于监听到程序运行触发操作，读取监测启动信息；响应于所述监测启动信息指示开启监测，在通过芯片测试程序进行芯片测试的过程中，按照预先设置的筛选条件获取各待监测接口函数的运行时间，所述待监测接口函数为所述芯片测试程序中用于进行芯片测试的接口函数；按照预先设置的展示方式，展示所述各待监测接口函数的运行时间。本公开技术方案可以只对需要监测的待监测接口函数进行性能监测，有利于有针对性获取芯片测试程序中的部分接口函数的运行性能。