存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质

本公开提供了一种存储器测试系统、方法、装置、芯片及计算机存储介质，属于存储器技术领域。该系统包括：控制器，测试访问端口和存储器；该测试访问端口，被配置为接收外部测试设备发送的算法选择指令，并传输至控制器，算法选择指令中包括目标算法标识；该控制器，被配置为根据目标算法标识，确定目标算法标识对应的至少一个待测指令，其中，控制器中预先存储了多个目标算法标识和待测指令集的对应关系，以及，执行至少一个待测指令，以对存储器进行测试。能够在不修改硬件电路的情况下，实现多种算法灵活切换的存储器测试系统。