一种高科技厂房防微振缺陷定位方法、介质及系统

本发明提供了一种高科技厂房防微振缺陷定位方法、介质及系统，属于高科技厂房技术领域，包括：获取经过荧光粉尘喷洒设备喷洒到高科技厂房顶壁外表面的荧光粉尘的分布图像，记为初始图像以及多张间隔图像；配准后得到校正后的间隔图像组；进行逐帧差分计算，得到多个差分图像；执行特征提取和自监督的聚类分析，识别出不同类型的荧光粉尘移动特征，形成荧光粉尘移动特征矩阵；输入到预选训练好的微振缺陷定位模型，得到微振缺陷初步定位矩阵：计算在高科技厂房三维模型对应的区域，作为微振异常区域；获取向微振异常区域发射的超声波信号参数以及接收到的超声波回波信号，并对微振异常区域进行定位，得到确定的多个位置作为防微振缺陷位置。