基于双分支密集残差网络的叠层衍射成像方法及系统

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基于双分支密集残差网络的叠层衍射成像方法及系统
申请号:CN202410753745
申请日期:2024-06-12
公开号:CN118762094A
公开日期:2024-10-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及叠层衍射成像技术领域,尤其涉及一种基于双分支密集残差网络的叠层衍射成像方法及系统,扫描样品的局部区域,在探测器端接收样品的衍射图样;将上述衍射图样通过ePIE相位恢复算法重建出样品对应区域的振幅和相位分布,生成训练数据集;构建双分支密集残差网络,将衍射图样映射到物体的振幅和相位,并结合上述训练数据集,利用构造的损失函数对双分支密集残差网络进行训练;扫描样品的剩余区域,在探测器端接收衍射图样,使用训练好的双分支密集残差网络预测样品的振幅和相位分布。本发明能够快速、准确、稳健的实现样品振幅和相位重建。
技术关键词
衍射成像方法 残差网络 相位恢复算法 分支 生成训练数据 特征提取模块 探测器 叠层衍射成像技术 解码器 Sigmoid函数 物体 编码模块 相位方法 编码器 扫描模块 解码模块 网络结构 级联
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