基于小样本数据的缺陷检测方法、系统、存储介质及设备

AITNT
正文
推荐专利
基于小样本数据的缺陷检测方法、系统、存储介质及设备
申请号:CN202410754992
申请日期:2024-06-12
公开号:CN118628886A
公开日期:2024-09-10
类型:发明专利
摘要
本发明实施例公开了一种基于小样本数据的缺陷检测方法,所述方法包括:获取小样本数据集,并将其划分为训练样本集和验证样本集;构建缺陷检测模型,并基于Faster R‑CNN算法对所述缺陷检测模型进行优化;利用所述训练样本集对优化后的所述缺陷检测模型进行训练直至训练完成;利用训练完成后的所述缺陷检测模型对所述验证样本集进行缺陷检测,获得检测结果;本发明通过划分小样本数据集、并利用基于Faster R‑CNN算法的对缺陷检测模型进行优化,通过优化算法和训练策略,有效提高模型的缺陷检测精度。
技术关键词
缺陷检测方法 特征金字塔网络 特征提取网络 ResNet网络 数据 训练样本集 缺陷类别 控制优化器 缺陷检测系统 分类器 算法 随机梯度下降 处理器 混合域 注意力机制 网络模块 计算机设备 可读存储介质
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号