故障注入方法、装置和电子设备

本发明提供一种故障注入方法、装置和电子设备，属于芯片技术领域。方法包括：获取待测芯片工作时能量曲线；对能量曲线进行信号处理，以筛选出待测芯片在能量曲线中的执行运算时间区间；基于待测芯片的输入数据与能量曲线的相关性，以及待测芯片输出数据与能量曲线的相关性，计算出执行运算时间区间中的关键时间点；获取待测芯片版图的功能区域分布图；基于功能区域分布图中待故障注入对象的故障防护类型，确定故障注入扫描方式；基于故障注入扫描方式进行故障注入扫描，基于扫描结果确定关键物理位置点。本发明基于时空双域的故障注入方法，从时间域和空间域分别进行关键时间点和关键物理位置点定位，提高故障注入精准度和故障注入攻击效率。