满意度确定方法、装置、电子设备及存储介质

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满意度确定方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202410764603
申请日期:2024-06-13
公开号:CN118708478A
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种满意度确定方法、装置、电子设备及存储介质,涉及灰度测试领域,以解经过灰度测试得到的产品或应用的用户满意度低的问题。方法包括:基于满意度预测模型,确定目标应用的测试版本的至少一个功能点的满意度;根据至少一个功能点的满意度,确定目标应用的测试版本的满意度。
技术关键词
控件 历史访问信息 模型训练方法 长短期记忆神经网络 时间段 支持向量回归模型 界面 模型训练装置 样本 电子设备 可读存储介质 标识 标签 处理器 模块 存储器 计算机 数据
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