IGBT器件剩余寿命预测方法及系统

本申请提供了IGBT器件剩余寿命预测方法和系统，包括：模拟IGBT器件功率循环老化的实验，根据所述实验采集导通压降历史数据，并根据所述导通压降历史数据，分别获取模型参数经验值和模型参数估计值；据当前运行状态，构造第一状态权重，并根据所述模型参数经验值和所述第一状态权重，对所述模型参数估计值进行平滑调整，得到参数修正结果；根据所述参数修正结果，建立状态转移方程，并根据所述状态转移方程对IGBT器件进行剩余寿命预测；采用本申请能够提高IGBT器件的剩余寿命预测的精确度。