一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质

本发明提供一种面板缺陷点聚集检测方法、系统、设备及存储介质，涉及工业智能制造技术领域，所述方法流程为：首先基于面板缺陷数据对面板中所有缺陷点进行初次聚集判定和二次聚集判定，以得到聚集面板；然后采用几何学算法对聚集面板进行图形搜寻，以得到聚集面板中每个聚集簇对应缺陷点的最小外接圆和凸包；再对聚集面板中每个聚集簇对应缺陷点的最小外接圆和凸包进行面积比值计算，以得到每个聚集簇对应缺陷点的形状系数；最后基于每个聚集簇对应缺陷点的形状系数进行聚集形状判定，以得到缺陷点的聚集形状类别。本发明引入了最小外接圆和凸包的数学概念来分析缺陷点的聚集形状，用定量的方式区分不同类型的聚集形状，具有较高的准确性。