一种集成电路故障监测方法及系统

本发明属于集成电路监测技术领域，本发明公开了一种集成电路故障监测方法，包括：S1、获取集成电路在正常与故障状态下的状态参数，根据状态参数构建第一比对序列；S2、获取环境参数，从环境参数中提取对状态参数存在影响的影响环境参数，基于影响环境参数建立环境‑状态参数映射关系，将环境‑状态参数映射关系与第一比对序列内的状态参数进行关联；本发明能够避免监测不必要的状态参数，能够及时监测当前集成电路是否存在故障，较为准确；能够根据当前环境参数对第一比对序列内的状态参数进行调整，使得对集成电路的故障与否判断的更加准确；能够便于获取处于故障状态的集成电路的故障类型。