集成电路检测方法、装置和计算机设备

本申请涉及一种集成电路检测方法、装置和计算机设备。所述方法包括：基于图像分割模型，分别对各待检测图像进行图像分割处理，得到各待检测图像对应的分割图像；提高了图像分割的效率；其中，各待检测图像为包含待检测集成电路的内部标志的待检测图像和包含待检测集成电路的外部标志的待检测图像，各分割图像为包含内部标志的分割图像和包含外部标志的分割图像；然后对每一待检测图像和待检测图像对应的分割图像进行像素运算，得到每一待检测图像对应的目标图像；并根据各目标图像之间的距离，确定待检测集成电路的篡改检测结果。如此，可以高效的确定待检测集成电路的篡改检测结果，进而提高集成电路检测的检测效率。