一种缺陷目标检测网络及方法

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一种缺陷目标检测网络及方法
申请号:CN202410776135
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118799266A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种缺陷目标检测网络及方法,包括:孪生异常注意力机制子网络、第一尺度检测子网络、第二尺度检测子网络和第三尺度检测子网络;所述孪生异常注意力机制子网络包括孪生的第一Focus模块、孪生的第二Focus模块、孪生的第一C2f模块、ACM模块和孪生的第三Focus模块。采用本发明,通过创新性的AAM、小目标缺陷改进模块以及AMBC‑Detect等关键技术,实现了芯片缺陷检测中小目标和曲线类缺陷的高效、精准识别,为工业质量控制领域提供了有力的技术支持。
技术关键词
拼接模块 输入端 网络 注意力机制 上采样 芯片缺陷检测 输出端 图片 图像 批量 曲线 元素 工业 通道
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