摘要
本发明公开一种缺陷目标检测网络及方法,包括:孪生异常注意力机制子网络、第一尺度检测子网络、第二尺度检测子网络和第三尺度检测子网络;所述孪生异常注意力机制子网络包括孪生的第一Focus模块、孪生的第二Focus模块、孪生的第一C2f模块、ACM模块和孪生的第三Focus模块。采用本发明,通过创新性的AAM、小目标缺陷改进模块以及AMBC‑Detect等关键技术,实现了芯片缺陷检测中小目标和曲线类缺陷的高效、精准识别,为工业质量控制领域提供了有力的技术支持。
技术关键词
拼接模块
输入端
网络
注意力机制
上采样
芯片缺陷检测
输出端
图片
图像
批量
曲线
元素
工业
通道
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