一种美瞳缺陷检测方法、系统和可存储介质

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一种美瞳缺陷检测方法、系统和可存储介质
申请号:CN202410777227
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118799572A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种美瞳缺陷检测方法、系统和可存储介质,方法包括获取美瞳的原始缺陷图像数据;搭建SegViT模型,其中SegViT模型包括编码器和解码器,编码器采用Swin Transformer结构,编码器包括分辨率逐渐减低的多个阶段,解码器包括与Swin Transformer结构的各个阶段对应的ATM模块;将缺陷样本数据集输入搭建的SegViT模型中训练,得到语义分割网络模型并进行保存,其中缺陷样本数据集包括原始缺陷图像数据;加载语义分割网络模型对待测美瞳图像数据进检测,得到检测结果。方法采用的改进后的语义分割网络模型能对美瞳进行更好的缺陷检测。
技术关键词
缺陷检测方法 语义分割网络 生成图像数据 编码器 扩展模块 美瞳 样本 解码器 多尺度特征提取 阶段 缺陷检测系统 图像块 可读存储介质 分辨率 计算机 指令
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