一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质

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一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202410778141
申请日期:2024-06-17
公开号:CN118501759A
公开日期:2024-08-16
类型:发明专利
摘要
本申请涉及数据处理技术领域,尤其是涉及一种电池老化测试方法、装置、电子设备及存储介质。电池老化测试方法包括:获取目标测试电池的默认电池信息;分析默认电池信息,确定测试周期和测试目标;基于默认电池信息和历史老化测试数据,确定每一测试目标的目标测试参数;检测在测试周期和当前时刻对应的目标测试参数下的电池运作数据,并分析电池运作数据,确定目标测试电池的当前老化状态。基于电池的默认信息和历史数据确定每一测试目标的目标测试参数,能够准确地反映电池的老化状态。可以根据不同的电池类型、规格和老化程度,灵活地调整测试参数和目标,适用于各种不同场景下的电池老化测试,整体提升了老化测试的测试效果。
技术关键词
电池老化测试方法 测试电池 老化测试装置 参数 周期 存储程序指令 分析模块 电子设备 可读存储介质 数据处理技术 整体提升 模拟模型 存储器 内阻 处理器 计算机 算法
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