一种芯片封装可靠性仿真装置及方法

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一种芯片封装可靠性仿真装置及方法
申请号:CN202410780891
申请日期:2024-06-18
公开号:CN118690607A
公开日期:2024-09-24
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种芯片封装可靠性仿真装置及方法,涉及电子封装技术领域,该芯片封装可靠性仿真装置包括仿真软件和客户端,仿真软件用于执行芯片封装可靠性仿真的任务,具有模型建立、参数设置和仿真分析等功能。客户端作为用户界面,与仿真软件进行交互,方便用户输入参数和条件,并生成相应的APDL仿真文件。本发明通过建立封装结构模型,并使用实际材料特性参数,确保仿真模型与实际封装结构高度一致,通过结合仿真软件和客户端进行芯片封装可靠性仿真,并得出相应的仿真结果,在提高仿真精度、增强故障预测、提升仿真效率、优化设计和材料选择以及提升整体研发效率和产品质量方面均具有显著优势。
技术关键词
仿真装置 仿真软件 仿真分析 疲劳寿命分析 可视化界面 封装材料 客户端 芯片封装结构 材料数据库 应力场 支持用户自定义 材料特性参数 电子封装技术 输出模块 仿真模型
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