调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质

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调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质
申请号:CN202410781134
申请日期:2024-06-18
公开号:CN118363873B
公开日期:2024-11-08
类型:发明专利
摘要
本发明实施例提供一种调试模块的测试方法、装置、设备及可读存储介质,该方法包括:构建在所述测试平台中运行的软件模拟模型;所述软件模拟模型包括用于测试所述调试模块内寄存器的JTAG读写模型、用于测试数据读写的处理器核模型以及用于测试内存访问的内存模型;根据所述软件模拟模型的类型,在预设的测试任务库中,分别获取不同类型对应的目标测试任务;所述测试任务库中有预先构建的至少一个测试任务;根据所述目标测试任务,构建所述调试模块的目标测试用例;基于所述目标测试用例,对所述调试模块进行测试。本发明可以提高调试模块的测试便捷性。
技术关键词
模拟模型 测试平台 内存 软件 信号 处理器 测试方法 数据 测试模块 通信接口 电子设备 可读存储介质 子模块 存储器 指令
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