芯片内测试电路

本发明提供一种芯片内测试电路包括串并转换器、并串转换器以及控制器。串并转换器接收为串行格式的测试输入信号，转换测试输入信号为并行格式，并产生多个测试输入数据。并串转换器接收多个测试结果数据，转换并行的多个测试结果数据为串行的测试结果信号。控制器耦接串并转换器以及并串转换器，用以传送多个测试输入数据至至少一被测电路，从至少一被测电路接收多个测试回馈数据以获得多个测试结果数据。芯片内测试电路用以节省测试时间，提高测试效率。