一种缺陷灰度统一衡量方法、系统、设备及存储介质

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一种缺陷灰度统一衡量方法、系统、设备及存储介质
申请号:CN202410785460
申请日期:2024-06-18
公开号:CN118351119B
公开日期:2024-09-24
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种缺陷灰度统一衡量方法、系统、设备及存储介质,涉及缺陷检测技术领域,所述方法流程为:将待检测工业图像输入目标检测模型进行缺陷检测,以得到缺陷位置坐标;基于缺陷位置坐标进行缺陷灰度检测,以得到最小灰度值、最大灰度值以及平均灰度值;基于空间转换系数将最小灰度值、最大灰度值以及平均灰度值从灰度空间转换到切线空间,以得到最小切线值、最大切线值以及平均切线值;基于最小切线值、最大切线值以及平均切线值进行缺陷灰度统一,以得到缺陷灰度统一衡量结果。本发明基于平均灰度值构建空间转换系数,并且基于空间转换系数将最小灰度值、最大灰度值从灰度空间转换到切线空间,以此统一灰度衡量标准。
技术关键词
检测工业 缺陷检测单元 像素点 坐标 深度学习网络模型 图像增强 缺陷检测技术 转换单元 辐射状 可读存储介质 处理器 计算机设备 存储器 训练集 数值 数据
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