一种存储芯片的故障测试设备及方法

本发明提供一种存储芯片的故障测试设备及方法，涉及芯片测试技术领域，设备包括：顶层控制器、多维度测试数据桶、故障自诊断模块、地址重映射修复模块和内容可寻址存储器；顶层控制器分别与故障自诊断模块、地址重映射修复模块以及内容可寻址存储器连接；地址重映射修复模块与内容可寻址存储器连接；故障自诊断模块分别与多维度测试数据桶和内容可寻址存储器连接；存储芯片的控制器与顶层控制器连接，故障自诊断模块根据测试指令从多维度测试数据桶中抽取测试数据对存储芯片进行测试，输出故障位置；内容可寻址存储器用于存储故障位置；测试结束后地址重映射修复模块抽取内容可寻址存储器中的故障位置对存储芯片进行故障修复。