微差压芯片的制造方法与微差压芯片

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微差压芯片的制造方法与微差压芯片
申请号:CN202410788404
申请日期:2024-06-19
公开号:CN118359167B
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明的实施例公开了一种微差压芯片及其制造方法,其中的制造方法包括:提供衬底,在衬底的一侧形成振膜层;在振膜层背离衬底的一侧形成牺牲层;对牺牲层进行刻蚀以形成第一通孔;在牺牲层背离衬底的一侧形成第二介质层和导电层,在第一通孔内填充形成第一支撑结构;对导电层和第二介质层进行刻蚀以形成释放孔以及均压通道;释放牺牲层,以形成间隙层;形成绝缘层,绝缘层密封释放孔;在均压通道内对振膜层进行刻蚀,以形成与均压通道连通的均压孔;在衬底背离振膜层的一侧对衬底进行刻蚀,以形成背腔,背腔通过均压孔与均压通道连通,以得到微压差芯片。本发明避免了污染颗粒能在芯片内直接通过均压通道进入间隙层,提高产品的可靠性。
技术关键词
衬底 导电层 电连接结构 芯片 介质 通道 刻蚀工艺 电感耦合等离子体 释放牺牲层 穿孔 止挡结构 层叠 通孔 绝缘材料 氢氟酸 气相 缓冲
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