一种基于温度校正的近红外光谱分析方法及装置

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一种基于温度校正的近红外光谱分析方法及装置
申请号:CN202410790585
申请日期:2024-06-19
公开号:CN118896928A
公开日期:2024-11-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及近红外光谱分析技术领域,具体为一种基于温度校正的近红外光谱分析方法及装置。获取不同温度下待测物质多个样本的初始近红外光谱数据、温度及目标成分信息,进行光谱数据预处理,选取目标校正波段,在每个目标校正波段中,选取特征波长点,得到特征波长点吸光度与温度之间的拟合函数,根据预处理后多个样本在不同温度下的近红外光谱数据与温度建立回归模型,基于回归模型,利用影响力函数计算同一波长点吸光度的温度敏感度,对目标校正波段中各个波长点对应的吸光度进行校正,通过完成训练的近红外光谱在线检测模型,测定待测产品的目标成分信息,提高了近红外光谱模型预测的样品的化学成分精度。
技术关键词
近红外光谱分析方法 近红外光谱在线检测 温度校正 光度 波长 待测物质 样本 近红外光谱分析装置 待测产品 近红外光谱分析技术 近红外光谱模型 矩阵 信息检测模块 选取特征 数据采集模块 校正模块 代表
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