中子散衍射数据处理方法、装置、电子设备及存储介质

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中子散衍射数据处理方法、装置、电子设备及存储介质
申请号:CN202410792466
申请日期:2024-06-19
公开号:CN118711716A
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种中子散衍射数据处理方法,包括:获取待处理中子散衍射数据,待处理中子散衍射数据包括各个原始测点的原始材料特性空间分布;通过第一推演模式或第二推演模式对待处理中子散衍射数据进行关键区域推演,确定出关键区域的细化坐标,关键区域的细化坐标包括关键区域中测量点的原始空间位置坐标;基于原始材料特性空间分布以及关键区域细化坐标,确定关键区域中材料特性的连续空间分布;对关键区域中材料特性的连续空间分布进行可视化处理,得到待处理中子散衍射数据的可视化处理结果。解决了现有方法受限于设备精度、信号采集速度及实验机时等因素,导致无法全面准确地表征样品测量区域中材料特性的变化的问题。
技术关键词
数据处理方法 中子 材料特性值 材料特征值 德洛内三角剖分 坐标点 模式 插值算法 数据处理装置 三角形 测量点 轮廓 分层 可读存储介质 时效性 立方体 处理器
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