一种用于芯片研磨切片断面分析的灌胶装置及其方法

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一种用于芯片研磨切片断面分析的灌胶装置及其方法
申请号:CN202410796839
申请日期:2024-06-20
公开号:CN118507393B
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体器件技术领域,具体公开了一种用于芯片研磨切片断面分析的灌胶装置及其方法,包括支撑架、树脂膜和灌胶模具,所述树脂膜通过抽拉结构间歇式输送于支撑架内,所述树脂膜侧壁设置有多个呈阵列分布的通孔,所述树脂膜的水平输送段顶端安装有多个芯片本体,所述灌胶模具包括管径相同的灌胶筒和灌胶管,所述灌胶筒固定安装于支撑架的底壁,所述灌胶筒和灌胶管分别位于树脂膜两侧,所述灌胶筒的底端设置有环齿片。本发明实现了树脂胶对芯片的完全式包裹,降低了芯片研磨过程中崩落的可能性,提高了灌注效率,芯片平装于树脂胶内,方便手持和研磨。
技术关键词
树脂膜 芯片 抽拉结构 胶管 切片 灌胶模具 液压推杆 输送段 真空脱泡 半导体器件技术 升降板 传动辊 真空排气 支撑块 顶端 双面胶 套管 真空泵 阵列
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