一种晶圆表面缺陷检测方法、装置及计算机设备

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一种晶圆表面缺陷检测方法、装置及计算机设备
申请号:CN202410805054
申请日期:2024-06-21
公开号:CN118822960A
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及晶圆表面缺陷检测技术,具体涉及一种晶圆表面缺陷检测方法、装置及计算机设备;所述方法包括获取目标图像和参考图像;提取所述目标图像的图像特征;所述图像特征包括灰度共生矩阵特征、直方图统计特征、图像互相关特征、傅里叶谱互相关特征、Hu不变矩特征以及低频集中特征;所述图像互相关特征和所述傅里叶谱互相关特征基于所述参考图像确定;将所述目标图像的图像特征输入到预先训练好的机器学习模型中,对所述图像特征进行缺陷检测处理,输出所述目标图像的缺陷检测结果。本发明整合形成8个特征点,实现了对晶圆图像特征的集中和提取,从而极大的避免了现有深度学习和机器学习的检测方案需要的极大计算量和数据量的难点。
技术关键词
表面缺陷检测方法 图像 灰度共生矩阵 机器学习模型 皮尔逊相关系数 晶圆表面缺陷检测 统计特征 机器可读指令 计算机设备 检测缺陷 直方图 笛卡尔坐标系 处理器 存储器 频率 特征点 电子设备
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