一种电子元器件生产质量优化控制方法

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一种电子元器件生产质量优化控制方法
申请号:CN202410808000
申请日期:2024-06-21
公开号:CN118396186B
公开日期:2024-10-11
类型:发明专利
摘要
本申请提供的一种电子元器件生产质量优化控制方法,涉及智能控制技术领域,通过以元器件的全生命周期为导向,确定早期失效因素点,进行节点因素特征分摊,确定动态质量阈值,并配置数字触发器进行元器件的产线自动化加工与同步监测,生成快速决策指令;结合智能决策模块,进行失效率评估与优化加工调控决策,确定优化控制策略,对所述目标元器件进行以质量为导向的优化调控,解决了现有技术中对元器件生产质量进行把控时不能及时对产品质量进行全面把控,导致生产效率低下,成品质量较差、适应性单一,生产成本较高的技术问题,达到了对元器件的实时质量评估和优化调控,从而有效预防和控制早期失效问题,提高产品的质量和可靠性的技术效果。
技术关键词
优化控制策略 优化控制方法 优化工艺流程 分布式监测装置 节点 电子元器件 动态 特征值 智能控制技术 决策算法 模块结构 指令 产线 信息系统 网络 标识
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