一种基于改进YOLOv8算法的轻量化PCB缺陷检测方法

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一种基于改进YOLOv8算法的轻量化PCB缺陷检测方法
申请号:CN202410808567
申请日期:2024-06-21
公开号:CN118608509A
公开日期:2024-09-06
类型:发明专利
摘要
本发明涉及PCB检测技术领域,且公开了一种基于改进YOLOv8算法的轻量化PCB缺陷检测方法,包括以下步骤:步骤一、获取公开的PCB缺陷数据集,将数据集划分为训练集、验证集和测试集;步骤二、建立基于改进YOLOv8算法的PCB缺陷检测模型;步骤三、使用改进后的PCB缺陷检测模型对训练集样本进行训练;步骤四、使用训练好的最优模型对测试集数据进行检测,然后对模型复杂度和检测结果评估。本发明针对PCB表面缺陷检测,通过改进Neck网络、改进SPPF特征聚合模块、优化损失函数得到改进后的YOLOv8模型,大幅减少了网络层数、网络参数量以及模型计算量,加强了特征聚合能力,加速模型收敛,提升了模型对PCB表面缺陷的检测精度和速度。
技术关键词
PCB缺陷检测方法 算法 训练集 PCB检测技术 表面缺陷检测 网络 模块 复杂度 数据格式 检测头 上采样 基础 样本 检测器 输入端 因子 场景 图像 精度
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