芯片测试方法、装置、计算机设备和可读存储介质

本申请涉及一种芯片测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品，可用于芯片技术领域。该方法包括：响应于对异构芯片的测试请求，执行第一存储单元中存储的芯片上电信息，对异构芯片进行上电操作；在异构芯片上电操作完成之后，执行第一存储单元中存储的第二处理单元启动信息，对异构芯片中的第二处理单元进行启动操作；第二处理单元用于在进入启动状态之后，执行第二存储单元中存储的与测试请求对应的芯片测试信息。采用本方法能够提高芯片测试的效率。