一种基于SCPI协议的微波成像及综合测量系统

本发明公开了一种基于SCPI协议的微波成像及综合测量系统，包括：电机驱动模块、无线模块、测量天线、二维扫场平台及转台和上位机软件。本发明通过SCPI协议对测量仪器进行程控，通过所搭建的微波成像及综合测量平台实现一种近场微波扫描成像、雷达散射截面及天线方向图测量的多功能综合测量系统。针对不同的测试环境，该系统提供了有线及无线的测量方案并实现了拓展测量仪器的功能、多种测量系统的高度集成化、降低了微波测量的成本。