一种高分辨率太赫兹波段材料特性分析系统

本发明涉及材料学领域，尤其涉及一种高分辨率太赫兹波段材料特性分析系统，包括太赫兹波发射器、样品台、太赫兹波接收器、分析模块、太赫兹波成像模块和误差计算模块；所述样品台用于放置待检测材料，所述太赫兹波接收器用于接收太赫兹波经过待检测材料后的透射波；所述太赫兹波成像模块用于显示所述太赫兹波接收器接收的透射图像；所述透射图像为待检测材料经太赫兹波照射后的的图像；所述分析模块用于分析材料的各种特性；所述误差计算模块用于计算材料的透光性能指标。本方案的有益效果考虑了材料内部缺陷对透射率计算的影响，通过计算材料缺陷指标和材料缺陷占比指标，有利于对材料内部的缺陷的内部情况进行分析。