岩土样品均匀性分析方法及相关装置

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岩土样品均匀性分析方法及相关装置
申请号:CN202410823267
申请日期:2024-06-25
公开号:CN118670950A
公开日期:2024-09-20
类型:发明专利
摘要
本实申请提供一种岩土样品均匀性分析方法及相关装置,涉及岩土工程领域。该方法中,电子设备获取岩土样品的多张CT扫描图像;分别根据每张CT扫描图像的像素阈值,将每张CT扫描图像转换为孔隙图像,其中,每张孔隙图像中的孔隙分布决定了岩土样品的均匀性。如此,利用CT技术对岩土样品的内部结构进行高精度、高分辨率的成像,并基于像素阈值区分出CT扫描图像中的孔隙,从而实现对样品均匀性的直观评价。
技术关键词
岩土样品 CT扫描图像 性分析方法 孔隙网络模型 像素 均匀性分析装置 电子设备 CT技术 处理器 界面 岩土工程 扫描模块 控件 存储器 程序 纵轴 指令 横轴 成像
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