一种多位射频开关的同轴延迟线和测试方法

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一种多位射频开关的同轴延迟线和测试方法
申请号:CN202410830257
申请日期:2024-06-25
公开号:CN118801066A
公开日期:2024-10-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种多位射频开关的同轴延迟线和测试方法,属于雷达目标模拟领域,包括射频开关,射频开关分别连接控制板卡和射频同轴线,射频开关采用吸收式射频开关,吸收式射频开关设置若干个,若干个吸收式射频开关采用对插式分布,吸收式射频开关采用多位射频开关,多位射频开关采用一分二的射频开关、一分四的射频开关或一分八的射频开关,相邻两个吸收式射频开关的一对端口之间连接射频同轴直通连接器,相邻两个吸收式射频开关之间的剩余端口与射频同轴线连接;多位吸收式射频加快同轴延迟线的切换响应速度,提高信号延迟传输的信噪比;射频开关的多位数能够明显减少开关数量、降低射频开关芯片带来的延迟。
技术关键词
吸收式射频开关 射频同轴线 延迟线 射频开关芯片 射频同轴连接器 矢量网络分析仪 测试方法 控制板卡控制 端口 集成存储器 信号 时钟模块 USB接口 传输路径 主控芯片 电源模块
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