一种用于存储芯片FT测试机的校准板卡方法

本发明公开了一种用于存储芯片FT测试机的校准板卡方法，属于芯片测试技术领域，具体包括：对于任一校准板卡对应的两块数字板卡，校准板卡使用SPI总线对GPIO进行编程，通过switch的切换设定其中一块数字板卡为Master，另一块为Slaver，对二者进行同步校准；数字板卡内部的TG模板生成校准时需要的数字信号，通过PE芯片传输给校准板卡中的FPGA进行采集，FPGA将数字信号与参考时钟信号对比进行修正；校准板卡FPGA发送所需要的数字信号进行Strobe，传输到数字板卡内部与参考时钟信号对比，对仍有误差的数字通道再次补偿，完成校准；本发明实现了对校准板卡功能和效率的提升。