一种用于测试AI芯片在模型训练和推理表现的系统

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一种用于测试AI芯片在模型训练和推理表现的系统
申请号:CN202410843083
申请日期:2024-06-27
公开号:CN118393329B
公开日期:2024-08-20
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种用于测试AI芯片在模型训练和推理表现的系统。其通过将所述被测试AI芯片在训练过程中的各种指标,例如内存带宽、计算性能、延迟、吞吐量、能效比和并行处理能力等,输入基于人工智能和深度学习的数据处理和分析算法中进行数据时序分析和交互关联,以此来测试和评估该AI芯片的推理表现能力等级。这样,能够利用动态数据来更为有效和精准地挖掘出AI芯片的隐藏性能模式,从而获得AI芯片在模型训练和推理表现上的更全面的测试结果。
技术关键词
指标 芯片 节点间信息 数据嵌入 编码向量 序列 编码器 分类器 时序特征 数据通信模块 特征提取单元 分析模块 因子 数据采集单元 多层感知机 网络
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