基于微流控芯片的温度校准方法和装置、测试机

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基于微流控芯片的温度校准方法和装置、测试机
申请号:CN202410849730
申请日期:2024-06-27
公开号:CN118831661A
公开日期:2024-10-25
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种基于微流控芯片的温度校准方法和装置、测试机,属于微电子技术领域。微流控芯片的每一分区设有加样缓冲组件,所述加样缓冲组件包括:加样缓冲池、废液空腔池、扩增反应区、第一微管路和第二微管路;该方法包括:获取每一所述温度检测模块采集的检测温度数据和检测特性信息;根据检测特性信息和预设的候选校准操作中筛选出目标校准操作;其中,目标校准操作表征校准检测温度数据的操作;根据目标校准操作获取温度检测模块的校准系数;根据校准系数对检测温度数据进行温度校准得到校准温度数据。本申请实施例能够提高微流控芯片的温度检测精度。
技术关键词
温度检测模块 微流控芯片 温度校准方法 缓冲池 微管 缓冲组件 视频采集器 测试机 数据 温度控制电路 模型校准 设备校准 机器学习模型 温度校准装置 线性 测试舱 处理单元 曲线
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