基于微流控芯片的测试机及使用状态检测方法

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基于微流控芯片的测试机及使用状态检测方法
申请号:CN202410849736
申请日期:2024-06-27
公开号:CN118813387A
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种基于微流控芯片的测试机及使用状态检测方法。本发明通过在测试机上设置处理模块和测试舱模块,并在测试舱模块上设置待检测件,利用使用状态检测方法,使得在测试舱模块与测试机连接时,处理模块对测试舱模块的当前使用状态进行检测,若当前使用状态表征测试舱模块未被使用,则处理模块控制测试机与测试舱模块保持连接状态,以对测试舱模块上的样品进行检测;否则处理模块控制测试机与测试舱模块断开连接,以避免测试舱模块的重复使用。本发明通过该基于微流控芯片的测试机及使用状态检测方法,能够提高微流控芯片的检测精度和检测效率,降低重复使用微流控芯片导致污染的概率。
技术关键词
测试舱 微流控芯片 存储芯片 状态检测模块 状态检测方法 测试机 微管 保险丝 特征值 处理器 加热模块 缓冲池 缓冲组件 空腔 数值 精度
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