芯片的测试方法、装置、存储介质、电子设备和车辆

本发明公开了一种芯片的测试方法、装置、存储介质、电子设备和车辆，涉及车辆领域。其中，该方法包括：获取与芯片的精度指标对应的第一测试脚本，且基于第一测试脚本，对芯片的精度指标进行测试，得到精度测试结果；获取与芯片的性能指标对应的第二测试脚本，且基于第二测试脚本，对芯片的性能指标进行测试，得到性能测试结果；获取在对芯片的精度指标和芯片的性能指标进行测试之前，芯片的第一功耗，以及在对芯片的精度指标和芯片的性能指标进行测试之后，芯片的第二功耗；基于第一功耗和第二功耗，确定芯片的功耗测试结果。本发明解决了对芯片进行测试的准确性低的技术问题。