芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质

本申请公开了一种芯片测试方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：基于对待测对象的测试内容，确定待测对象的存储空间中的目标存储地址；基于预设三角函数对目标存储地址进行三角函数运算，并基于三角函数运算结果和预设目标数据宽度生成测试数据；基于当前测试模式将测试数据写入待测对象，并从待测对象中读出与测试数据对应的第一结果数据；基于测试数据和第一结果数据确定测试结果。以此基于存储位置并通过简单的三角函数运算生成测试数据，在实现快速生成测试数据的同时提升了数据的随机性，并且由于不需要依赖随机种子，测试失败时可快速定位错误，易于复现和调试，从而提升了通用性。