一种透平叶片改进验证方法、系统、设备及存储介质

本发明涉及透平叶片领域，具体涉及一种透平叶片改进验证方法、系统、设备及存储介质；获取原型透平叶片的基本参数；根据基本参数建立原型透平叶片的几何模型，根据所述几何模型，建立对应的原型透平叶片数值分析模型；根据数值分析模型获取不同工况下原型透平叶片的性能参数，根据性能参数得到原型透平叶片改进标准参数；本发明将数值分析方法应用在透平叶片改进中，有效缩短了透平叶片的改进周期，进一步降低了透平叶片改进成本。本发明提供的方法对透平叶片的资料需求限制少，尤其是针对无设计参数的透平叶片进行改进。