物理盘测试方法、装置、可读存储介质及电子设备

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物理盘测试方法、装置、可读存储介质及电子设备
申请号:CN202410864835
申请日期:2024-07-01
公开号:CN118398072B
公开日期:2024-11-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种物理盘测试方法装置、可读存储介质及电子设备。获取系统下物理盘的分区数据;获取与所述物理盘对应的预设测试配置;根据所述预设测试配置对每一所述分区执行测试,得到每一所述分区对应的测试结果;根据所述分区数据对所有所述测试结果进行加权得到物理盘测试结果;本发明根据分区数据对测试结果进行加权得到物理盘测试结果,从而实现了将对逻辑盘的测试结果转换为对整个物理盘的测试结果,从而能够在物理盘成功挂载之后实现对单个物理盘的测试,综合不同分区的测试结果得到整个物理盘的测试结果,避免了不同存储区域测试结果的偏差对测试最终准确性的影响。
技术关键词
分区 接口获取系统 逻辑 测试方法装置 数据 测试模块 可读存储介质 电子设备 处理器 驱动器 时间段 输出模块 存储器 对象 算法 物理 计算机 偏差
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