一种测试设备及测试方法

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一种测试设备及测试方法
申请号:CN202410877331
申请日期:2024-06-28
公开号:CN118779169A
公开日期:2024-10-15
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种测试设备及测试方法,测试设备包括:操控平台、夹持结构和测试夹具;测试夹具,用于插接被测单板的高速串行计算机扩展总线标准PCIE槽位;测试夹具还用于连接示波器;夹持结构,用于固定测试夹具,并接收操控平台的按键指令,根据按键指令在测试夹具上完成对应的按键次数操作;不同的按键次数对应不同的PCIE档位,不同的PCIE档位具有不同的速率;示波器,用于从测试夹具捕获PCIE发送信号;示波器或操控平台,用于对示波器捕获的PCIE发送信号进行分析。本申请实施例提供的测试设备能够自动实现对PCIE链路进行信号质量的测试,提高测试效率。
技术关键词
测试夹具 按键 示波器 夹持结构 测试设备 计算机扩展总线 测试方法 指令 档位 平台 人机交互界面显示 可编程逻辑芯片 控制器 单板 电磁阀 信号 串行接口 参数 脚本
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