一种存储芯片的测试方法及测试系统

本发明提供一种存储芯片的测试方法及测试系统，属于存储技术领域。所述存储芯片的测试方法包括以下步骤：向存储芯片内持续写入数据，直至存储芯片进入全脏盘模式；在预设时间间隔后，重新向存储芯片内写入数据；监测存储芯片的写入模式，存储芯片先以高性能写入数据，再进入低性能写入模式时，获取高性能写入耗时；增加预设时间间隔，再次获取高性能写入耗时，直至高性能写入耗时稳定；以及依据高性能写入耗时稳定时的预设时间间隔获取后台操作耗时，并依据稳定的高性能写入耗时和高性能写入数据的速度获取后台操作每次释放的闪存空间。通过本发明提供的存储芯片的测试方法及测试系统，可自动获取存储芯片的后台操作的相关数据。