一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法

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一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法
申请号:CN202410883038
申请日期:2024-07-03
公开号:CN118429462B
公开日期:2024-09-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多层编码和相位标记的超低场弥散加权成像方法,涉及磁共振成像技术领域。该方法包括:利用多层编码和相位标记技术开发适用于超低场的基于2D SE EPI的DWI成像序列,采集得到对应的DWI数据和EPI数据;基于采集的DWI数据和EPI数据,结合磁场不均匀图进行DWI图像的重建,以得到最终的DWI图像和ADC图像。本发明通过采用多层编码和相位标记技术,并使用改进图像重建算法来提高超低场条件下基于2D SE EPI成像DWI图像质量,显著提高了图像信噪比、改善了图像伪影和几何畸变。
技术关键词
弥散加权成像方法 标记技术 数据 磁共振成像技术 序列 编码技术 图像重建算法 图像信噪比 温漂 校正 采样技术 编码方法 处理器 切片 可读存储介质 坐标
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