缺陷图像生成方法、模型训练方法、装置、介质及产品

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推荐专利
缺陷图像生成方法、模型训练方法、装置、介质及产品
申请号:CN202410888542
申请日期:2024-07-03
公开号:CN118761983A
公开日期:2024-10-11
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种缺陷图像生成方法、模型训练方法、装置、介质及产品,包括:获取目标图像、目标掩膜图像及目标缺陷类型,其中所述目标图像为无缺陷的图像;将所述目标图像、所述目标掩膜图像及所述目标缺陷类型输入至预先训练的缺陷图像生成模型;其中,所述缺陷图像生成模型中包含噪声处理模块及特征提取模块,利用训练数据集分别对噪声处理模块及特征提取模块进行训练,得到输出缺陷图像的缺陷图像生成模型;经由所述缺陷图像生成模型处理得到目标缺陷图像,以供后续用于缺陷检测模型的训练,为缺陷检测模型等场景提供了大量的缺陷数据,解决了当前缺陷样本数据较少的问题,进而提高了缺陷检测模型的准确性。
技术关键词
图像生成模型 特征提取模块 噪声图像 图像生成方法 数据矩阵相乘 模型训练方法 特征值 掩膜 计算机程序指令 计算机程序产品 样本 处理器 存储器 误差
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