获取电压和频率关系的方法、芯片测试装置、设备和介质

本发明公开了获取电压和频率关系的方法、芯片测试装置、设备和存储介质。该方法包括：将待测设备中的环形振荡器设置为具有第一链路长度；根据所述第一链路长度和所述待测设备的第一测试电压获取所述待测设备的第一频率；基于所述第一频率针对所述待测设备运行测试用例；根据所述测试用例的测试结果获取与所述第一测试电压相对应的频率。本发明能够完整测试出在相同测试电压下对应的频率，对电源电压波动的敏感性降低，只需要留出少量的频率余量就能够获得很好的系统稳定性，方便基于测试结果给出合理的实际应用条件，缩短产品的上线时间。